高加速壽命測試 HALT

    采用步進(jìn)方式施加應(yīng)力，在產(chǎn)品設(shè)計階段快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的裕度，暴露產(chǎn)品的設(shè)計缺陷，鑒別低質(zhì)量的元器件，評估和改善產(chǎn)品的設(shè)計。

 ◇高加速應(yīng)力篩選 HASS

    清除生產(chǎn)過程中引入的產(chǎn)品缺陷的篩選過程：采用比產(chǎn)品未來試用過程中高很多的恒定環(huán)境應(yīng)力和電應(yīng)力，在很短的時間內(nèi)激發(fā)出產(chǎn)品在外場可能出現(xiàn)的各種早期失效形式。

◇高加速應(yīng)力稽核 HASA

經(jīng)由加速之方式，找到制程中的變異，發(fā)現(xiàn)制程中質(zhì)量控制下降，確認(rèn)早夭因素是否徹底清除。

  溫度范圍: -100℃ ~ +200℃

  溫變速率: 最快 60 ℃/min

  振動頻寬: 10Hz ~ 5kHz

  振 動 量: 0~50Grms

參考標(biāo)準(zhǔn)：

GBT 29309-2012

電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力實驗規(guī)程高加速壽命實驗導(dǎo)則