【芯片測試】半導體可靠性測試有哪些？深圳訊科檢測機構(gòu)就帶大家來了解一下具體的相關內(nèi)容，如您有相關產(chǎn)品需要咨詢，

處理芯片測試的目的要在找到?jīng)]毛病處理芯片的前提下盡可能降低成本。處理芯片復雜性愈來愈高, 為了確保在出廠的處理器品質(zhì)出不來其他問題, 必須在在出廠前進行測試以保證作用完好性等。而處理芯片作為一個大批量生產(chǎn)的東西了, 規(guī)模性功能測試的解決方案, 靠人力換句話說基準測試是無法進行這種每日任務。

半導體材料可靠性檢測主要分環(huán)境試驗和壽命試驗2個大類，在其中環(huán)境試驗其中包含了機械設備實驗（振動測試、應力測試、離心式加速試驗、引線抗壓強度測試和引線拉伸試驗）、引線易焊性試驗、環(huán)境溫度實驗（超低溫、持續(xù)高溫和氣溫交替變化實驗）、濕熱試驗（穩(wěn)定環(huán)境濕度和交變濕熱）、獨特實驗（鹽霧測試、黃曲霉菌實驗、低氣壓試驗、靜電感應耐受性實驗、超高真空實驗和輻射實驗）；而壽命試驗包括了長期性壽命試驗（長期性存儲使用壽命或長期使用壽命）和加速壽命試驗（穩(wěn)定地應力加快使用壽命、步進電機地應力加快使用壽命和序進地應力加快使用壽命），在其中能夠自己選擇地去做其中一些。

可靠性測試

1.溫度下限工作中實驗:受試試品先通電運作測試代碼開展考研初試檢驗。在受試試品不啟動條件下，將箱里環(huán)境溫度慢慢降至0℃,待環(huán)境溫度穩(wěn)定后，通電運作測試代碼5h，受試試品作用與使用應正常的，實驗完了，待箱環(huán)境溫度返回室內(nèi)溫度，取下試品，在常規(guī)大氣壓力下修復2h。

強烈推薦檢驗標準：受試試品作用與使用應正常的，外型沒有明顯誤差。

2.超低溫存儲實驗將試樣放進低溫箱，使箱環(huán)境溫度降至-20℃，在受試試品不啟動條件下儲放16h，取下試品返回室內(nèi)溫度，再修復2h，通電運作測試代碼進行后檢測，受試試品作用與使用應正常的，外型沒有明顯誤差。為避免實驗中受試試品起霜和凝露現(xiàn)象，容許將受試試品用聚乙稀塑料薄膜密封性之后進行實驗，如果需要也可以在密封套內(nèi)窗受潮劑。

強烈推薦檢驗標準：受試試品作用與使用應正常的，外型沒有明顯誤差。

3.溫度上限工作中實驗受試試品再進行考研初試檢驗。在受試試品不啟動條件下，將箱環(huán)境溫度慢慢升至40℃，待環(huán)境溫度穩(wěn)定后，通電運作系統(tǒng)自檢程序流程5h，受試試品作用與使用應正常的，實驗完了，待箱環(huán)境溫度返回室內(nèi)溫度，取下試品，在常規(guī)大氣壓力下修復2h。

強烈推薦檢驗標準：受試試品作用與使用應正常的，外型沒有明顯誤差。

4.持續(xù)高溫存儲實驗將試樣放進高溫試驗箱，使箱環(huán)境溫度升至55℃，在受試試品不啟動條件下儲放16h，取下試品返回室內(nèi)溫度，修復2h。

強烈推薦檢驗標準：受試試品作用與使用應正常的，外型沒有明顯誤差。

可靠性測試步驟：

1、依據(jù)實驗目標和商品狀況，明確實驗的種類；

2、假設商品的使用壽命分布類型；

3、依據(jù)商品大批量及成本費狀況選中試驗方案；

4、依據(jù)技術(shù)以及經(jīng)濟狀況，明確新產(chǎn)品的可靠性指標的界線；

5、依據(jù)試驗方案和給予的主要參數(shù)制訂抽樣方案來確認試品的數(shù)量及實驗時長；

6、明確測試條件，包含自然條件、工作性質(zhì)和載荷標準及其試品的最初的狀態(tài)；

7、依據(jù)商品性能，要求應檢測的主要參數(shù)及相關的檢測方法和精確測量周期時間；

8、制訂故障分類及判斷的規(guī)則；

9、要求需的記錄新項目、內(nèi)容與相對應文件格式；

10、開展數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析與處理，分辨實驗結(jié)論，明確提出檢測報告。

我們秉承科學嚴謹?shù)墓ぷ鲬B(tài)度，以客戶為中心，高效統(tǒng)籌安排測試計劃，竭力縮短測試時間的周期，為客戶提供快捷、公正的第三方咨詢檢測等服務。服務區(qū)域遍布廣東廣州、深圳、東莞、佛山、中山、珠海、清遠、惠州、茂名、揭陽、梅州、江門、肇慶、汕頭、潮州、河源、韶關及全國各地如您有相關產(chǎn)品需要咨詢，歡迎您直接來電4000-1998-38咨詢我司工作人員，獲得詳細的費用報價與周期方案等信息，深圳訊科期待您的光臨！